光波分量分析仪

光波分量分析仪

光学元件的精密表征

是德科技XP1级光波器件分析仪包括N4300系列。

高频S参数分析助力新一代光器件研发

是德科技光波元件分析仪（LCA）通过校准S参数测量对光学部件和光子元件进行表征。这些解决方案将高带宽矢量网络分析仪 光电转换器结合，用于测量光器件的频率响应特性，从而在性能验证过程中提供更深入的洞察。LCA无需手动校准，可在温度、波长和偏振变化条件下提供稳定、可重复的测量结果。根据调制器、光子集成电路（PIC）及其他新一代光组件的验证需求，依据类型、最高频率和光纤模式选择所需LCA。您可选用热门预配置方案，或根据应用需求定制专属配置。

可追溯校准

采用符合行业标准的校准工具，消除手动光学校准，从而获得更可靠的S参数测量精度。

高频特性分析

支持高达110 GHz的电光测量，这对捕捉1.6T设计中高速器件的行为至关重要。

VNA集成

基于是德科技矢量网络分析仪（VNA）平台构建，实现简易配置，并为电气和光学应用场景提供共享用户界面。

被动与主动支持

专为表征被动和主动元件而设计，例如光调制器和光子集成电路，满足多样化的测试需求。

类型：光波分量分析仪光波发射器分析仪套装光波检测器

频率：67 GHz至220 GHz

光纤模式：单模、单模和多模

系列型号有：N4364A、N4372E、N4373E、N4377A、N4378A